功率MOS管選型需根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景、電壓、電流、熱性能等關(guān)鍵參數(shù)綜合考量。以下為具體步驟和要點(diǎn)：

選型步驟?

1.明確N/P溝道類(lèi)型?N溝道適用于低壓側(cè)開(kāi)關(guān)（如12V系統(tǒng)），P溝道適用于高壓側(cè)開(kāi)關(guān)（如驅(qū)動(dòng)電機(jī)）。 ?

2.確定額定電壓（VDS）?通常為總線(xiàn)電壓的1.5-2倍，需考慮溫度波動(dòng)和瞬態(tài)電壓。 ?

3.計(jì)算額定電流（ID）?需滿(mǎn)足最大負(fù)載電流及峰值電流（建議留5-7倍余量）。 ?

4.評(píng)估導(dǎo)通損耗（RDS(on)）?導(dǎo)通電阻越低，損耗越小，建議優(yōu)先選擇RDS(on)≤0.5Ω的器件。

5.熱設(shè)計(jì)?滿(mǎn)負(fù)荷工作時(shí)表面溫度不超過(guò)120℃，需配合散熱措施。 ?

關(guān)鍵參數(shù)說(shuō)明?柵極電荷（Qg）?：

1.影響開(kāi)關(guān)速度和效率，需與驅(qū)動(dòng)電路匹配。 ?

2.品質(zhì)因數(shù)（FoM）?：綜合考慮RDS(on)和Qg的平衡，F(xiàn)oM值越小越好。 ?

3.封裝選擇?：大功率需用TO-220或DPAK封裝，兼顧散熱和空間限制。

注意事項(xiàng)

并聯(lián)使用時(shí)需確保驅(qū)動(dòng)能力匹配，避免因參數(shù)差異導(dǎo)致分流不均。 ?

避免串聯(lián)使用MOS管，防止耐壓不足引發(fā)故障。 DFN（Dual Flat Non-leaded） 無(wú)引腳扁平封裝，引腳從底部引出，寄生電感低于QFN（如筆記本電腦電源）。蘇州12V至300V N MOSFET功率器件MOS產(chǎn)品選型晶圓

功率場(chǎng)效應(yīng)晶體管也分為結(jié)型和絕緣柵型,但通常主要指絕緣柵型中的MOS型（MetalOxideSemiconductorFET）,簡(jiǎn)稱(chēng)功率MOSFET。

功率MOSFET的結(jié)構(gòu)和工作原理

功率MOSFET的種類(lèi)：按導(dǎo)電溝道可分為P溝道和N溝道。按柵極電壓幅值可分為；耗盡型；當(dāng)柵極電壓為零時(shí)漏源極之間就存在導(dǎo)電溝道，增強(qiáng)型；對(duì)于N（P）溝道器件，柵極電壓大于（小于）零時(shí)才存在導(dǎo)電溝道，功率MOSFET主要是N溝道增強(qiáng)型。

功率MOSFET的結(jié)構(gòu)

功率MOSFET的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和電氣符號(hào)；其導(dǎo)通時(shí)只有一種極性的載流子（多子）參與導(dǎo)電，是單極型晶體管。導(dǎo)電機(jī)理與小功率MOS管相同，但結(jié)構(gòu)上有較大區(qū)別，小功率MOS管是橫向?qū)щ娖骷?，功率MOSFET大都采用垂直導(dǎo)電結(jié)構(gòu)，又稱(chēng)為VMOSFET（VerticalMOSFET），**提高了MOSFET器件的耐壓和耐電流能力。 杭州12V至200V P MOSFET功率器件MOS產(chǎn)品選型銷(xiāo)售價(jià)格?新能源領(lǐng)域?：光伏逆變器、風(fēng)力發(fā)電變流器、儲(chǔ)能系統(tǒng)；

無(wú)錫商甲半導(dǎo)體MOS 管封裝形式及散熱性能分析

TO-220 

封裝TO-220 封裝是一種較為經(jīng)典且常見(jiàn)的封裝形式，具有通用性強(qiáng)、成本低的特點(diǎn)。它通常采用塑料材質(zhì)，引腳呈直插式，便于焊接和安裝。TO-220 封裝的 MOS 管帶有一個(gè)較大的金屬散熱片，該散熱片與 MOS 管的漏極相連，能夠?qū)⑿酒a(chǎn)生的熱量傳導(dǎo)至外部。在自然對(duì)流的情況下，TO-220 封裝的 MOS 管散熱能力一般，熱阻約為 60 - 80℃/W 。但如果配合散熱片使用，散熱性能可得到***提升，熱阻能降低至 10 - 20℃/W，適用于功率在 10 - 50W 左右的**率電路。

1、超級(jí)結(jié)的性能提升方法使溝槽和溝槽間距盡可能小和深。SJ-MOS可以設(shè)計(jì)為具有較低電阻的N層，從而實(shí)現(xiàn)低導(dǎo)通電阻產(chǎn)品。2、超級(jí)結(jié)存在的問(wèn)題本質(zhì)上超級(jí)結(jié)MOSFET比平面MOSFET具有更大的pn結(jié)面積，因此trr比平面MOSFET快，但更大的irr流動(dòng)。內(nèi)部二極管的反向電流irr和反向恢復(fù)時(shí)間trr會(huì)影響晶體管關(guān)斷開(kāi)關(guān)特性。

二、超結(jié)MOS的結(jié)構(gòu)超結(jié)MOSFET的創(chuàng)新在于其“超結(jié)”結(jié)構(gòu)。這個(gè)結(jié)構(gòu)通過(guò)在垂直方向上交替排列的P型和N型區(qū)域來(lái)實(shí)現(xiàn)。每個(gè)P型區(qū)域和其旁邊的N型區(qū)域共同構(gòu)成一個(gè)“超結(jié)單元”，這些單元在整個(gè)器件中交替排列。這種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得在導(dǎo)通狀態(tài)下，電流可以通過(guò)較低的電阻路徑流動(dòng)，同時(shí)在關(guān)斷狀態(tài)下仍然能夠承受高電壓。 它屬于金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（MOSFET）的一種，具有驅(qū)動(dòng)電路簡(jiǎn)單、開(kāi)關(guān)速度快、工作頻率高等特點(diǎn)。

晶體管外形封裝（TO）

TO封裝作為早期的封裝規(guī)格，涵蓋諸如TO-3P、TO-247等多種設(shè)計(jì)。這種封裝形式以其高耐壓和強(qiáng)抗擊穿能力著稱(chēng)，適用于中高壓、大電流的MOS管。在現(xiàn)代應(yīng)用中，TO封裝逐漸向表面貼裝式發(fā)展。

雙列直插式封裝（DIP）

DIP封裝以其兩排引腳設(shè)計(jì)而聞名，被設(shè)計(jì)為插入到具有相應(yīng)DIP結(jié)構(gòu)的芯片插座中。DIP封裝還有其緊縮版——SDIP（Shrink DIP）。DIP封裝類(lèi)型多樣，包括多層陶瓷雙列直插式DIP等，其優(yōu)勢(shì)在于與主板的兼容性較好。然而，DIP封裝由于其較大的封裝面積和厚度，可靠性相對(duì)較低。

外形晶體管封裝（SOT）

SOT是一種貼片型小功率晶體管封裝，其常見(jiàn)類(lèi)型包括SOT23、SOT89等。這種封裝以小巧體積和良好可焊性見(jiàn)稱(chēng)，廣泛應(yīng)用于低功率場(chǎng)效應(yīng)管中。

小外形封裝（SOP）

SOP（Small Out-Line Package）是一種表面貼裝型封裝方式，其引腳以L(fǎng)字形從封裝兩側(cè)引出。SOP封裝常用于MOSFET的封裝，其以塑料材質(zhì)輕便簡(jiǎn)潔的封裝形式贏(yíng)得廣泛應(yīng)用。為了適應(yīng)更高性能要求，又發(fā)展了諸如TSOP等新型封裝。

四邊無(wú)引線(xiàn)扁平封裝（QFN）

QFN是一種四邊配置有電極接點(diǎn)的封裝方式，其特點(diǎn)是無(wú)引線(xiàn)和具備優(yōu)異的熱性能。其應(yīng)用主要集中在微處理器等領(lǐng)域，提供更優(yōu)的散熱能力。 對(duì)于高功率場(chǎng)景，優(yōu)先考慮散熱能力強(qiáng)的TO系列或D2PAK；佛山應(yīng)用場(chǎng)景功率器件MOS產(chǎn)品選型供應(yīng)商

TO-247 大功率表面貼裝封裝，3/4引腳設(shè)計(jì)，適配高功率MOSFET/IGBT（如電動(dòng)汽車(chē)OBC）。蘇州12V至300V N MOSFET功率器件MOS產(chǎn)品選型晶圓

功率MOSFET的基本特性

動(dòng)態(tài)特性MOSFET其測(cè)試電路和開(kāi)關(guān)過(guò)程。開(kāi)通過(guò)程；開(kāi)通延遲時(shí)間td(on)—Up前沿時(shí)刻到UGS=UT并開(kāi)始出現(xiàn)iD的時(shí)刻間的時(shí)間段；上升時(shí)間tr—UGS從UT上升到MOSFET進(jìn)入非飽和區(qū)的柵壓UGSP的時(shí)間段；iD穩(wěn)態(tài)值由漏極電源電壓UE和漏極負(fù)載電阻決定。UGSP的大小和iD的穩(wěn)態(tài)值有關(guān)，UGS達(dá)到UGSP后，在up作用下繼續(xù)升高直至達(dá)到穩(wěn)態(tài)，但iD已不變。開(kāi)通時(shí)間ton—開(kāi)通延遲時(shí)間與上升時(shí)間之和。

關(guān)斷延遲時(shí)間td(off)—Up下降到零起，Cin通過(guò)RS和RG放電，UGS按指數(shù)曲線(xiàn)下降到UGSP時(shí)，iD開(kāi)始減小為零的時(shí)間段。下降時(shí)間tf—UGS從UGS

P繼續(xù)下降起，iD減小，到UGS

MOSFET的開(kāi)關(guān)速度MOSFET的開(kāi)關(guān)速度和Cin充放電有很大關(guān)系，使用者無(wú)法降低Cin，但可降低驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)阻Rs減小時(shí)間常數(shù)，加快開(kāi)關(guān)速度，MOSFET只靠多子導(dǎo)電，不存在少子儲(chǔ)存效應(yīng)，因而關(guān)斷過(guò)程非常迅速，開(kāi)關(guān)時(shí)間在10～100ns之間，工作頻率可達(dá)100kHz以上，是主要電力電子器件中比較高的。場(chǎng)控器件靜態(tài)時(shí)幾乎不需輸入電流。但在開(kāi)關(guān)過(guò)程中需對(duì)輸入電容充放電，仍需一定的驅(qū)動(dòng)功率。開(kāi)關(guān)頻率越高，所需要的驅(qū)動(dòng)功率越大。 蘇州12V至300V N MOSFET功率器件MOS產(chǎn)品選型晶圓