AOI軟件中有一個綜合性的驗證功能，它能減少檢查的誤報，保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品，例如，修理站存放的樣品，以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。在優(yōu)化階段，在這方面花時間的原因是為了不讓任何缺陷溜過去。所有已知的缺陷都必須檢查，同時要把允許出現(xiàn)的誤報數(shù)量做到**小。在針對減少誤報而對任何程序進行調(diào)整時，要檢查一下，看看以前檢查出來的直正缺陷，是否得到維修站的證實。通過綜合的核實，保證檢查程序的質(zhì)量，用于專門的制造和核查，同時對誤報進行追蹤。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。相城區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸

錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點：A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。在ICT上，相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴重性成比例。輕微的少錫很少導致缺陷，而嚴重的情況，如根本無錫，幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此，決定哪里放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的，這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。這個位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括，印刷偏移和焊錫量信息，而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生。吳江區(qū)國內(nèi)自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制制定設(shè)計方針，可以有效地簡化檢查和降低生 產(chǎn)成本。

由于缺乏無鉛元件，轉(zhuǎn)到使用無鉛元件是分階段進行的。在2004年，由于要求電子產(chǎn)品的體積越來越小，迫使制造商***地用0402元件來取代0603元件和0805元件。工藝條件除了普遍使用的0402元件，印刷電路板的***次合格率（FPY）必須達到95%，而且必須根據(jù)印刷電路協(xié)會（IPC）的2級標準來檢測缺陷。例如，在有608個焊點的168元件的情況下，相當于要求誤報率是百萬分之65。為了達到FPY的要求，在檢測缺陷時必須考慮以下條件：元件長度的公差、元件供應(yīng)商、貼片公差、在25 個AOI系統(tǒng)上的全球檢測數(shù)據(jù)庫、有80個獨特產(chǎn)品的全球檢測數(shù)據(jù)庫、無鉛焊料、不同的電路板供應(yīng)商以及檢測質(zhì)量要達到IPC的2級標準。

系統(tǒng)采用DSP系統(tǒng)可以實現(xiàn)高速數(shù)據(jù)采集、自動增益控制、實時門限報警、傳動設(shè)備控制等問題; 采用標準的工控機,是吸收了虛擬儀器的思想,以便實現(xiàn)多通道的智能化管理,以及波形顯示、數(shù)據(jù)分析、用戶可視化操作、探傷報告打印。主從機之間通過PC機并口和DSP主機接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸。 [2]模擬部分DAUTD的模擬部分包括超聲波收發(fā)電路、數(shù)控放大/衰減器、可控模擬濾波器陣列。超聲波收發(fā)電路采用600V、400V負脈沖激勵; 增益控制電路由一級固定20dB 放大, 二級壓控放大器提供- 20～ + 60dB 的衰減和放大, 則整個系統(tǒng)增益設(shè)計為80dB, **小步進0. 1dB; 可控濾波器設(shè)定為多種寬帶濾波模式, 如0～ 15M Hz、2～ 20M Hz 等, 比較高工作頻段為20M Hz。 [2每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術(shù)并運用適當 的運算法則來進行檢查。

缺陷檢測基于光學成像與圖像處理技術(shù)，通過特殊光源組合突出表面缺陷特征：暗場打光捕捉劃傷、油墨黑點等平面缺陷，明場打光檢測凹凸點、橘紋等立體缺陷，透光打光用于砂眼、崩邊等透光缺陷的輪廓定位 [1] [3]。檢測系統(tǒng)配置顯微鏡級物像放大器與**照明光源，采用線掃相機逐行拍攝技術(shù)實現(xiàn)高速采集 [2]。典型檢測系統(tǒng)包含以下**組件：基座與支架：提供機械支撐與運動機構(gòu)夾緊裝置：實現(xiàn)檢測物品的精確定位驅(qū)動機構(gòu)：控制檢測區(qū)域移動與翻轉(zhuǎn)多光譜攝像頭：搭載可調(diào)式光學鏡頭組多工位檢測設(shè)備可同步完成托盤正反兩面12項缺陷檢測，單日處理量超過5000件 [3]。昆山國內(nèi)自動化缺陷檢測設(shè)備哪里買

基于圖像檢查的基本 原理是：每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的.相城區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸

2D x-ray圖8當應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時，所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時，還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs，會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計，這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài)；此外， 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的，而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)。相城區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸

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