3xTg小鼠:研究Aβ與Tau相互作用的阿爾茨海默癥小鼠模型
養(yǎng)鼠必看!小鼠繁育常見異常問題大盤點(diǎn),附實(shí)用解決指南
??ㄎ乃箤?shí)驗(yàn)動(dòng)物推出“一站式”小鼠模型服務(wù)平臺(tái),賦能新藥研發(fā)
C57BL/6J老齡鼠 | 衰老及其相關(guān)疾病研究的理想模型
新生幼鼠高死亡率?卡文斯主任解析五大關(guān)鍵措施
常州卡文斯UOX純合小鼠:基因編輯研究的理想模型
ApoE小鼠專業(yè)飼養(yǎng)管理- 常州卡文斯為您提供質(zhì)量實(shí)驗(yàn)小鼠
專業(yè)提供品質(zhì)高Balb/c裸鼠實(shí)驗(yàn)服務(wù),助力科研突破
專業(yè)實(shí)驗(yàn)APP/PS1小鼠模型服務(wù),助力神經(jīng)退行性疾病研究
小鼠快速擴(kuò)繁與生物凈化服務(wù)
針對(duì) UV LED 的失效分析,擎奧檢測(cè)建立了特殊的安全防護(hù)測(cè)試環(huán)境。某款 UV 固化燈在使用過程中出現(xiàn)功率驟降,技術(shù)人員在防護(hù)等級(jí)達(dá) Class 3B 的紫外實(shí)驗(yàn)室中,用光譜輻射計(jì)監(jiān)測(cè)不同使用階段的功率變化,同時(shí)通過 X 射線衍射分析 AlGaN 外延層的晶體結(jié)構(gòu)變化。結(jié)果表明,長期工作導(dǎo)致的有源區(qū)量子阱退化是主要失效機(jī)理,而這與散熱基板的熱導(dǎo)率不足直接相關(guān)?;诜治鼋Y(jié)論,團(tuán)隊(duì)推薦客戶采用金剛石導(dǎo)熱基板,使產(chǎn)品的使用壽命延長 3 倍以上。Mini LED 背光模組的失效分析對(duì)檢測(cè)精度提出了極高要求,擎奧檢測(cè)的超景深顯微鏡和探針臺(tái)系統(tǒng)在此發(fā)揮了關(guān)鍵作用。某型號(hào)電視背光出現(xiàn)局部暗斑,技術(shù)人員通過微米級(jí)定位系統(tǒng)觀察到部分 Mini LED 的焊盤存在虛焊現(xiàn)象,這源于回流焊過程中焊膏量控制不均。利用 3D 錫膏檢測(cè)設(shè)備對(duì)來料進(jìn)行驗(yàn)證,發(fā)現(xiàn)焊膏印刷的標(biāo)準(zhǔn)差超過了工藝要求的 2 倍。團(tuán)隊(duì)隨即協(xié)助客戶優(yōu)化了鋼網(wǎng)開孔設(shè)計(jì),將焊膏量的 CPK 值從 1.2 提升至 1.6,徹底解決了虛焊問題。針對(duì)汽車電子 LED 產(chǎn)品開展專項(xiàng)失效分析。靜安區(qū)什么是LED失效分析服務(wù)
在軌道交通照明用 LED 的失效分析中,擎奧檢測(cè)的行家團(tuán)隊(duì)展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。軌道交通場景對(duì) LED 的耐振動(dòng)、寬溫適應(yīng)性要求極高,一旦出現(xiàn)失效可能影響行車安全。擎奧檢測(cè)通過模擬軌道車輛的振動(dòng)頻率和溫度波動(dòng)范圍,加速 LED 的失效過程,再利用材料分析設(shè)備檢測(cè) LED 內(nèi)部的焊點(diǎn)、封裝膠等部件的狀態(tài),精確定位如引線疲勞斷裂、封裝膠開裂等失效原因,并提供針對(duì)性的改進(jìn)建議。面對(duì)照明電子領(lǐng)域常見的 LED 光衰失效,擎奧檢測(cè)建立了科學(xué)的分析體系。光衰是 LED 長期使用中的典型問題,與芯片發(fā)熱、封裝材料老化、散熱設(shè)計(jì)缺陷等密切相關(guān)。實(shí)驗(yàn)室通過對(duì)失效 LED 進(jìn)行光譜曲線測(cè)試,對(duì)比初始參數(shù)找出光衰規(guī)律,同時(shí)利用熱阻測(cè)試設(shè)備分析散熱路徑的合理性,結(jié)合材料分析團(tuán)隊(duì)對(duì)封裝硅膠、熒光粉的成分檢測(cè),判斷是否存在材料熱老化或變質(zhì)問題,為客戶提供優(yōu)化散熱結(jié)構(gòu)、選用耐溫材料等切實(shí)可行的解決方案。LED失效分析探究 LED 電流過載引發(fā)的失效機(jī)制。
LED 驅(qū)動(dòng)電路的失效分析是上海擎奧服務(wù)的重要組成部分,團(tuán)隊(duì)通過電磁兼容(EMC)測(cè)試室與電路仿真平臺(tái),精確定位驅(qū)動(dòng)電路導(dǎo)致的 LED 失效。針對(duì)某款 LED 路燈的頻繁閃爍問題,技術(shù)人員使用示波器捕捉驅(qū)動(dòng)電源的輸出紋波,發(fā)現(xiàn)紋波系數(shù)超過 15%,結(jié)合頻譜分析儀檢測(cè)到的電磁干擾信號(hào),確定是濾波電容失效導(dǎo)致的電源穩(wěn)定性不足。對(duì)于智能 LED 燈具的控制失效,團(tuán)隊(duì)通過邏輯分析儀追蹤單片機(jī)的控制信號(hào),結(jié)合環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS),發(fā)現(xiàn)高溫環(huán)境下的芯片程序跑飛是主因,為客戶提供了驅(qū)動(dòng)電路的抗干擾改進(jìn)方案。
在 LED 失效的壽命評(píng)估方面,上海擎奧創(chuàng)新采用加速老化與數(shù)據(jù)建模相結(jié)合的分析方法。針對(duì)室內(nèi) LED 筒燈的預(yù)期壽命不達(dá)標(biāo)的問題,實(shí)驗(yàn)室在 85℃高溫、85% 濕度環(huán)境下進(jìn)行加速老化試驗(yàn),每 24 小時(shí)記錄一次光通量數(shù)據(jù),基于 Arrhenius 模型推算正常使用條件下的壽命曲線,發(fā)現(xiàn)熒光粉衰減速度超出預(yù)期。對(duì)于戶外 LED 投光燈的壽命評(píng)估,團(tuán)隊(duì)通過紫外線老化箱模擬陽光照射,結(jié)合雨蝕試驗(yàn),建立了材料老化與光照強(qiáng)度、降雨頻率的關(guān)聯(lián)模型,為客戶提供了精確的壽命預(yù)測(cè)報(bào)告,幫助優(yōu)化產(chǎn)品保修策略。為 LED 設(shè)計(jì)優(yōu)化提供失效分析技術(shù)支持。
針對(duì)低溫環(huán)境下 LED 產(chǎn)品的失效問題,上海擎奧開展專項(xiàng)研究并提供專業(yè)分析服務(wù)。公司的環(huán)境測(cè)試設(shè)備可精確模擬零下幾十度的低溫環(huán)境,測(cè)試 LED 在低溫啟動(dòng)、持續(xù)工作時(shí)的性能變化,如亮度驟降、啟動(dòng)困難、電路故障等。團(tuán)隊(duì)結(jié)合材料分析,檢測(cè) LED 封裝膠、線路板在低溫下的物理性能變化,如封裝膠脆化開裂、線路板收縮導(dǎo)致的焊點(diǎn)脫落等。通過分析低溫對(duì) LED 各部件的影響機(jī)制,為企業(yè)提供低溫適應(yīng)性改進(jìn)方案,確保產(chǎn)品在寒冷地區(qū)的正常使用。針對(duì) LED 驅(qū)動(dòng)電路開展系統(tǒng)性失效分析。崇明區(qū)國內(nèi)LED失效分析案例
運(yùn)用先進(jìn)設(shè)備測(cè)量 LED 失效的電學(xué)參數(shù)。靜安區(qū)什么是LED失效分析服務(wù)
在上海浦東新區(qū)金橋開發(fā)區(qū)的擎奧檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室里,先進(jìn)的材料分析設(shè)備正在為 LED 失效分析提供精確的支撐。針對(duì) LED 產(chǎn)品常見的光衰、色溫偏移等問題,實(shí)驗(yàn)室通過掃描電子顯微鏡(SEM)觀察芯片焊點(diǎn)微觀結(jié)構(gòu),結(jié)合能譜儀(EDS)分析金屬遷移現(xiàn)象,可以快速的定位失效根源。2500 平米的檢測(cè)空間內(nèi),恒溫恒濕箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱等環(huán)境測(cè)試設(shè)備模擬 LED 在不同工況下的不同工作狀態(tài),配合光譜儀實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光參數(shù)變化,為失效機(jī)理研究提供完整數(shù)據(jù)鏈。靜安區(qū)什么是LED失效分析服務(wù)