參考標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-14 試驗(yàn)方法 N：溫度變化中的 Nc。實(shí)現(xiàn)方式為吊籃式，將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同的溫度液體中。則適用于玻璃-金屬密封及類似產(chǎn)品，因此電器產(chǎn)品中不予考核該項(xiàng)目。IEC 60068-2-14，Na 以及 ISO 16750-4 5.3.2 冷熱沖擊試驗(yàn)中推薦的循環(huán)數(shù)為 5，實(shí)際應(yīng)用中過(guò)少，推薦使用表 3 參數(shù)。IEC 60068-2-14、ISO 16750-4 、MIL-STD-810F 及 GJB150 中對(duì)于冷熱沖擊的要求循環(huán)數(shù)都為 5 個(gè)循環(huán)以內(nèi)。該三類標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此試驗(yàn)的定義為：確定裝備能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化，而不產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降，模擬的情況為：產(chǎn)品的航空運(yùn)輸、航空下投以及其它產(chǎn)品從不同溫度區(qū)域轉(zhuǎn)移的情況。對(duì)于汽車類產(chǎn)品，執(zhí)行此標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，因?yàn)槲覀兛己说哪M情況不一樣，故參數(shù)需要進(jìn)行變動(dòng)，主要變動(dòng)參數(shù)為：循環(huán)數(shù)增加（因應(yīng)用到汽車電器產(chǎn)品中為加速老化試驗(yàn)，故其循環(huán)數(shù)一般超過(guò) 100）。濕度分帶電（Biased）和不帶電（Unbiased）兩種，這兩種分別考核不同的失效模型和機(jī)理。廣西SIR表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)

    GWLR-256多通道RTC導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)之所以能夠在性能上**同類產(chǎn)品，得益于其一系列先進(jìn)的**技術(shù)。這些技術(shù)相互協(xié)作，為高精度、高效率的導(dǎo)通電阻測(cè)試提供了堅(jiān)實(shí)保障。智能電流自適應(yīng)技術(shù)：該系統(tǒng)配備的智能電流自適應(yīng)技術(shù)是一大技術(shù)亮點(diǎn)。在面對(duì)1μΩ-200Ω如此寬泛的電阻量程時(shí)，它能夠自動(dòng)且精細(xì)地匹配-的測(cè)試電流（調(diào)節(jié)精度為步進(jìn)）。這種智能匹配機(jī)制的優(yōu)勢(shì)在于，能夠針對(duì)不同阻值的電阻，提供**合適的測(cè)試電流。例如，對(duì)于高阻值的電阻通道，如果測(cè)試電流不足，就會(huì)導(dǎo)致測(cè)量偏差，影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。而GWLR-256的智能電流自適應(yīng)技術(shù)能夠有效避免這種情況的發(fā)生，確保在全量程范圍內(nèi)，電阻測(cè)量精度始終維持在±1%，**提高了測(cè)試的可靠性。 東莞SIR表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)此外，金屬薄膜沉積不均勻（工藝固有缺陷）是電遷移發(fā)生的根本誘因。

在電子制造業(yè)中，產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性是企業(yè)生存和發(fā)展的基石。而焊點(diǎn)作為電子產(chǎn)品中連接各個(gè)元器件的關(guān)鍵部位，其可靠性直接關(guān)系到整個(gè)產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性。廣州維柯的 GWLR - 256 多通道 RTC 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)，憑借其高精度、高效率的測(cè)試能力，成為了電子制造業(yè)中焊點(diǎn)可靠性驗(yàn)證的不可或缺的關(guān)鍵工具。在 PCB 焊接和 FPC 組裝等關(guān)鍵生產(chǎn)環(huán)節(jié)中，焊點(diǎn)電阻異常是導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要隱患之一。微小的焊點(diǎn)電阻變化，可能會(huì)引發(fā)電路信號(hào)傳輸不穩(wěn)定、發(fā)熱異常甚至短路等嚴(yán)重問(wèn)題。因此，準(zhǔn)確檢測(cè)焊點(diǎn)電阻并確保其在合理范圍內(nèi)，對(duì)于保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量至關(guān)重要。

(1)CAF、SIR等測(cè)試是IPC、IEC等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的**內(nèi)容，為PCB企業(yè)進(jìn)入**市場(chǎng)（如醫(yī)療設(shè)備、5G基站）提供資質(zhì)保障。(2)IPC-TM-650、IEC61189等標(biāo)準(zhǔn)將CAF、SIR等納入可靠性測(cè)試框架，推動(dòng)行業(yè)規(guī)范化。許多企業(yè)已建立高于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以建立企業(yè)技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。(3)中國(guó)《“十四五”信息通信行業(yè)發(fā)展規(guī)劃》和《新能源汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展規(guī)劃》明確支持高頻高速、高可靠性PCB研發(fā)，2024年**工作報(bào)告強(qiáng)調(diào)“人工智能+”行動(dòng)，進(jìn)一步刺激AI服務(wù)器PCB需求。綠色制造推動(dòng)，無(wú)鹵素基材、環(huán)保工藝的測(cè)試需求推動(dòng)行業(yè)向低碳化轉(zhuǎn)型，符合全球環(huán)保法規(guī)（如RoHS）。客戶可通過(guò)數(shù)據(jù)分析 平臺(tái)查看歷史測(cè)試數(shù)據(jù) ，優(yōu)化生產(chǎn)流程。

    在PCB/FPC產(chǎn)品的驗(yàn)證過(guò)程中，CAF（導(dǎo)電性陽(yáng)極絲）測(cè)試、SIR（表面絕緣電阻）測(cè)試與RTC（實(shí)時(shí)監(jiān)控或溫度循環(huán)測(cè)試）是三種關(guān)鍵的質(zhì)量控制手段，它們?cè)跍y(cè)試目標(biāo)、方法及重要性上存在***差異。以下是它們的區(qū)別及重要性的綜合分析：一、CAF/SIR測(cè)試與RTC測(cè)試的區(qū)別**1.**測(cè)試目標(biāo)與原理**-**CAF測(cè)試**：主要檢測(cè)PCB內(nèi)部因銅離子遷移導(dǎo)致的導(dǎo)電性陽(yáng)極絲現(xiàn)象。在高溫高濕環(huán)境下，銅離子沿玻纖微裂紋或界面遷移，形成導(dǎo)電細(xì)絲，可能導(dǎo)致短路失效。測(cè)試通過(guò)施加電壓并監(jiān)控絕緣電阻變化，評(píng)估抗電化學(xué)遷移能力。-**SIR測(cè)試**：評(píng)估PCB表面絕緣層的絕緣性能，防止因污染、潮濕或工藝缺陷導(dǎo)致的電流泄漏。通過(guò)施加直流電壓并測(cè)量電阻值，判斷絕緣材料（如阻焊油墨、基材）的可靠性。 先進(jìn)的溫度控制系統(tǒng)模擬嚴(yán)苛環(huán)境 ，提高測(cè)試準(zhǔn)確性。湖南智能電阻測(cè)試系統(tǒng)

模塊化的集成設(shè)計(jì)，16通道組成一個(gè)測(cè)試模塊。廣西SIR表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)

【SIR測(cè)試促進(jìn)綠色能源技術(shù)發(fā)展】隨著綠色能源技術(shù)的快速發(fā)展，尤其是太陽(yáng)能光伏板和風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用，SIR測(cè)試成為確保這些系統(tǒng)長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵。光伏板和風(fēng)電機(jī)組中的電子部件需要在戶外長(zhǎng)期暴露，面臨風(fēng)雨侵蝕、溫度波動(dòng)等挑戰(zhàn)。通過(guò)SIR測(cè)試，可以評(píng)估并選擇適合戶外環(huán)境的絕緣材料，減少因環(huán)境因素導(dǎo)致的性能衰退，提升能源轉(zhuǎn)換效率和設(shè)備壽命，加速清潔能源的普及和應(yīng)用。【SIR測(cè)試在醫(yī)療設(shè)備安全中的作用】醫(yī)療設(shè)備的電氣安全直接關(guān)系到患者的生命健康。SIR測(cè)試在這里發(fā)揮著不可替代的作用，確保設(shè)備中使用的絕緣材料能夠有效防止電流泄露，保護(hù)患者免受電擊風(fēng)險(xiǎn)。特別是在手術(shù)器械、監(jiān)測(cè)設(shè)備等對(duì)電氣安全有極高要求的場(chǎng)合，SIR測(cè)試結(jié)果是產(chǎn)品認(rèn)證和質(zhì)量控制的重要依據(jù)。通過(guò)對(duì)醫(yī)療設(shè)備進(jìn)行定期的SIR測(cè)試，制造商能夠持續(xù)改進(jìn)設(shè)計(jì)，提升設(shè)備的安全性和可靠性，保障醫(yī)療操作的安全無(wú)虞廣西SIR表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)