DNA探針（DNA probe）是**常用的核酸探針，為長(zhǎng)度在幾十到幾百甚至上千堿基對(duì)的單鏈或雙鏈DNA，用特殊示蹤劑（如同位素、酶或有色基團(tuán)）進(jìn)行標(biāo)記；在適當(dāng)?shù)膒H值、溫度和離子強(qiáng)度下，DNA探針利用分子的變性、復(fù)性以及堿基互補(bǔ)配對(duì)的高度精確性，能與待測(cè)樣本中互補(bǔ)的非標(biāo)記單鏈DNA或RNA以氫鍵結(jié)合（雜交），形成雙鏈復(fù)合物（雜交體）。雜交體的穩(wěn)定性取決于兩條單鏈核苷酸之間的互補(bǔ)程度。在嚴(yán)格的條件下（高pH值、高溫、低離子強(qiáng)度），不完全匹配的雜交體的兩鏈將會(huì)解離，而完全匹配的雜交體將保持雙鏈。將未配對(duì)結(jié)合的探針洗去后，可用放射自顯影或酶聯(lián)反應(yīng)等檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)雜交反應(yīng)結(jié)果。電子探針在鏡筒部分與掃描電鏡明顯不同之處是由光學(xué)顯微鏡。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針售價(jià)

2、能譜儀來(lái)自樣品的X光子通過(guò)鈹窗口進(jìn)入鋰漂移硅固態(tài)檢測(cè)器。每個(gè)X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內(nèi)產(chǎn)生電子空穴對(duì)。不同能量的X光子將產(chǎn)生不同的電子空穴對(duì)數(shù)。例如，F(xiàn)e的Kα輻射可產(chǎn)生1685個(gè)電子空穴對(duì)，而Cu為2110。知道了電子空穴對(duì)數(shù)就可以求出相應(yīng)的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高度分析器中的數(shù)模轉(zhuǎn)換器首先把脈沖信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，建立起電壓脈沖幅值與道址的對(duì)應(yīng)關(guān)系（道址號(hào)與X光子能量間存在對(duì)應(yīng)關(guān)系）。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針售價(jià)光學(xué)顯微鏡目測(cè)系統(tǒng)。用以準(zhǔn)確選擇需要分析的區(qū)域，并作光學(xué)觀察。

利用電子探針?lè)治龇椒梢蕴街牧蠘悠返幕瘜W(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠罚瑯悠繁砻嬉鍧?。用波譜儀分析樣品時(shí)要求樣品平整，否則會(huì)降低測(cè)得的X射線強(qiáng)度。定性分析1 點(diǎn)分析用于測(cè)定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測(cè)定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強(qiáng)度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像?？梢?jiàn)，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強(qiáng)。

②隨機(jī)引物法。隨機(jī)引物是指含有各種可能排列順序的寡聚核苷酸片斷的混合物，因此它可以與任意核苷酸序列雜交，起到聚合酶反應(yīng)的引物作用。將待標(biāo)記的DNA探針片斷變性后與隨機(jī)引物一起雜交，然后以此雜交的寡聚核苷酸為引物，在大腸桿菌DNA聚合酶I大斷段（KlenowFragment）催化下，合成與探針DNA互補(bǔ)的DNA鏈，當(dāng)在反應(yīng)體系中含有a-32P-dNTP時(shí)，即形成放射性同位素標(biāo)記的DNA探針。具有上述優(yōu)點(diǎn)，可代替缺口平移法。此外大小、單雙DNA均可標(biāo)記，標(biāo)記均勻，標(biāo)記率高，但也不能標(biāo)記環(huán)狀DNA。隨機(jī)引物法標(biāo)記探針一般長(zhǎng)400~600bp。通過(guò)鑒別其特征波長(zhǎng)或特征能量就可以確定所分析的元素。

3 面分析用于測(cè)定某種元素的面分布情況。方法是將X射線譜儀固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)的位置上，電子束在樣品表面做光柵掃描，此時(shí)在熒光屏上便可看到該元素的面分布圖像。顯像管的亮度由試樣給出的X射線強(qiáng)度調(diào)制。圖像中的亮區(qū)表示這種元素的含量較高。定量分析定量分析時(shí)，先測(cè)得試樣中Y元素的特征X射線強(qiáng)度IY，再在同一條件下測(cè)出已知純?cè)豗的標(biāo)準(zhǔn)試樣特征X射線強(qiáng)度IO。然后兩者分別扣除背底和計(jì)數(shù)器死時(shí)間對(duì)所測(cè)值的影響，得到相應(yīng)的強(qiáng)度值IY和IO，兩者相除得到X射線強(qiáng)度之比KY= IY / IO。 直接將測(cè)得的強(qiáng)度比KY當(dāng)作試樣中元素Y的重量濃度，其結(jié)果還有很大誤差，通常還需進(jìn)行三種效應(yīng)的修正。即原子序數(shù)效應(yīng)的修正，吸收效應(yīng)修正，熒光效應(yīng)修正。經(jīng)過(guò)修正，誤差可控制在±2%以?xún)?nèi)。由分光晶體所分散的單一波長(zhǎng)X射線被X射線檢測(cè)器接受，常用的檢測(cè)器一般是正比計(jì)數(shù)器。松江區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針現(xiàn)價(jià)

背散射電子圖像系統(tǒng)。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針售價(jià)

測(cè)試探針，K-50-QG 無(wú)線路由器測(cè)試，是應(yīng)用于電子測(cè)試中測(cè)試PCBA的一種測(cè)試連接電子元件。測(cè)試探針的種類(lèi)有PCB探針、ICT功能測(cè)試探針（汽車(chē)線束測(cè)試探針、電池針、電流電壓針、開(kāi)關(guān)針、電容極性針、高頻針）、BGA測(cè)試探針等。測(cè)試探針根據(jù)產(chǎn)地不同又分為美國(guó)QA探針、美國(guó)ECT探針、美國(guó)IDI探針等，德國(guó)INGUN探針，德國(guó)PTR探針等，韓國(guó)LEENON探針，中國(guó)臺(tái)灣CCP中國(guó)探針，中國(guó)臺(tái)灣UC佑傳探針等。測(cè)試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制作工藝上。測(cè)試探針?lè)秩N，而國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品其材質(zhì)很多用進(jìn)口材質(zhì)。 [1]崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針售價(jià)

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