2）X射線能譜分析法。無(wú)須分析晶體，而直接將探測(cè)器接收的訊號(hào)加以放大，進(jìn)行脈沖幅度分析，通過(guò)選擇不同的脈沖幅度來(lái)確定入射x射線的能量，從而區(qū)分不同的特征X射線。計(jì)算時(shí)應(yīng)用布拉格方程：nλ=2dsinθ。 [2]1、能進(jìn)行微區(qū)分析?？煞治鰯?shù)個(gè)μm3內(nèi)元素的成分。2、能進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。無(wú)需把分析對(duì)象從樣品中取出，可直接對(duì)大塊試樣中的微小區(qū)域進(jìn)行分析。把電子顯微鏡和電子探針結(jié)合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯(lián)系起來(lái)。3、分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。電子探針是法國(guó)制成的，是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。金山區(qū)優(yōu)勢(shì)探針生產(chǎn)廠家

電子探針又稱(chēng)微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線，按其波長(zhǎng)及強(qiáng)度對(duì)固體表面微區(qū)進(jìn)行定性及定量化學(xué)分析。主要用來(lái)分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆?；蛭⑿^(qū)域，**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。***感量可達(dá)10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置，可在觀察微區(qū)形貌的同時(shí)逐點(diǎn)分析試樣的化學(xué)成分及結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門(mén)。如圖《電子探針示意圖》所示。松江區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針五星服務(wù)電子探針和掃描電鏡在電子光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)造基本相同，它們常常組合成單一的儀器。

（3）X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)。特征X射線，由B系統(tǒng)中的計(jì)數(shù)管接收，并轉(zhuǎn)換成電脈沖，通過(guò)脈沖高度分析儀、計(jì)數(shù)率計(jì)、定標(biāo)器、電子電位計(jì)將其強(qiáng)度測(cè)量出來(lái)。（4）光學(xué)顯微鏡目測(cè)系統(tǒng)。用以準(zhǔn)確選擇需要分析的區(qū)域，并作光學(xué)觀察。（5）背散射電子圖像系統(tǒng)。（6）吸收電子圖像系統(tǒng)。（7）特征X射線圖像系統(tǒng)。電子探針的技術(shù)**是利用X射線晶體光學(xué)，主要應(yīng)用兩種方法：1）晶體衍射法（X射線光譜法）。利用晶體轉(zhuǎn)到一定角度，來(lái)衍射某種波長(zhǎng)的X射線，通過(guò)讀出晶體不同的衍射角，求出X射線的波長(zhǎng)，從而定出樣品所含的元素。

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器， [1]可以用來(lái)分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過(guò)加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域，使其發(fā)出特征X射線，測(cè)定該X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，即可對(duì)該微區(qū)的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實(shí)質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合。波譜儀的關(guān)鍵在于怎樣實(shí)現(xiàn)將未知的特征譜線與已知元素Z聯(lián)系起來(lái)？

（1）電子光學(xué)系統(tǒng)。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發(fā)原子發(fā)射特征X射線譜過(guò)程如下：圍繞原子核運(yùn)動(dòng)的內(nèi)層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補(bǔ)充轟擊出的電子而發(fā)生躍遷，在躍遷過(guò)程中釋放出能量，即發(fā)射出X射線。（2）X射線譜儀。測(cè)量各種元素產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，并以此對(duì)微小體積中所含元素進(jìn)行定性和定量分析。特征X射線圖像顯像管的原理是：X射線束入射到一已知晶面間距的晶體上（X射線分光光度計(jì)的彎曲晶體上），經(jīng)衍射后各種波長(zhǎng)的X射線按不同的布拉格角彼此分開(kāi)，因此如轉(zhuǎn)動(dòng)晶體，改變衍射角，同時(shí)以兩倍于晶體的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)計(jì)數(shù)器，就可以依次測(cè)量出各種元素所產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，達(dá)到定性和定量分析的目的。這種神秘的Wi-Fi探針,實(shí)際是“WiFi信道掃描工具”。徐匯區(qū)品牌探針商家

1953年前蘇聯(lián)制成了X射線微區(qū)分析儀，以后英、美等國(guó)陸續(xù)生產(chǎn)。金山區(qū)優(yōu)勢(shì)探針生產(chǎn)廠家

電子探針?lè)治鍪侵敢跃劢沟母咚匐娮觼?lái)激發(fā)出試樣表面組成元素的特征X射線，對(duì)微區(qū)成分進(jìn)行定性或定量分析的一種材料物理試驗(yàn)，又稱(chēng)電子探針X射線顯微分析。電子探針?lè)治龅脑硎牵阂詣?dòng)能為10～30千電子伏的細(xì)聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內(nèi)層電子，使原子電離，此時(shí)外層電子迅速填補(bǔ)空位而釋放能量，從而產(chǎn)生特征X射線。電子探針的功能主要是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種高效率分析儀器。其原理是用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征x射線，分析特征X射線的波長(zhǎng)（或特征能量）即可知道樣品中所含元素的種類(lèi)（定性分析），分析X射線的強(qiáng)度，則可知道樣品中對(duì)應(yīng)元素含量的多少（定量分析）。金山區(qū)優(yōu)勢(shì)探針生產(chǎn)廠家

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