深圳市芯技科技有限公司2025-06-28

電參數(shù)測(cè)試：VR=0.8×VZ時(shí)IR>10μA（標(biāo)稱<1μA），芯技提供老化測(cè)試閾值 外觀檢測(cè)：封裝開裂/變色，芯技X光檢測(cè)空洞率>5%判失效 熱成像定位：通電后ΔT>20℃（正常<5℃），芯技IR報(bào)告標(biāo)注熱點(diǎn)

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