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太倉通用自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制

來源: 發(fā)布時間:2025-08-12

元器件尺寸IPC-7350標準描述了器件的尺寸,并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據(jù)IPC標準,器件的長度和引腳的寬度可 以有一個較大變化范圍,相反,焊盤的尺寸卻是相對固定 的。此外,PCB制造公差的影響相對于這些器件的變化來說 也是是很小的。PCB的顏色和阻焊通常,設(shè)備能夠檢查 出所有不同單板的顏色, 盡管檢查中的某些細節(jié)處 理是不倚賴于顏色的。例 如, 一塊白色和一塊綠 色的PCB有著不同的對比 度,因此設(shè)備需要一些特 定的補償。在一種極端情 況下,橋接在亮背景下呈 現(xiàn)黑色,而在另一種極端情況下,橋接在黑背景下卻是呈現(xiàn)出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實踐中,焊盤間(甚至是 細間距引腳)的區(qū)域也應(yīng)該覆蓋著阻焊層,這個建議也已 經(jīng)被焊料供應(yīng)商所響應(yīng)。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。太倉通用自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制

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光學檢測儀(Automatic Optic Inspection,簡稱AOI)是一種基于光學原理檢測焊接生產(chǎn)缺陷的自動化設(shè)備,主要應(yīng)用于電子制造領(lǐng)域。該設(shè)備通過攝像頭自動掃描印刷電路板(PCB),采集圖像并與預(yù)設(shè)合格參數(shù)進行對比,識別焊接缺陷如橋接、元件移位等。其軟件具備綜合驗證功能,可優(yōu)化檢測程序以減少誤報,并支持無鉛焊膏工藝的適應(yīng)性調(diào)整。系統(tǒng)通過靈活的傳感器模塊、照明及算法分析,能夠適應(yīng)元件形態(tài)變化,兼容現(xiàn)有生產(chǎn)線設(shè)備。AOI技術(shù)近年快速發(fā)展,已成為電子制造中提升檢測效率的關(guān)鍵工具之一。太倉購買自動化缺陷檢測設(shè)備銷售廠夾緊裝置:實現(xiàn)檢測物品的精確定位.

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AOI(Automated Optical Inspection縮寫)的中文全稱是自動光學檢測,是基于光學原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。當自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整。 [1]運用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。

LS(Lead Scan的縮寫)是半導(dǎo)體封裝后段制程中用于集成電路(IC)外觀缺陷自動化檢測的關(guān)鍵設(shè)備,涵蓋晶圓切割、焊線鍵合、芯片封裝等多環(huán)節(jié)的質(zhì)量控制。該設(shè)備采用激光散射與暗場成像技術(shù),可識別23nm級顆粒污染、劃痕及鍵合參數(shù)異常,檢測貫穿硅片認證、生產(chǎn)過程控片檢測等全流程。主流設(shè)備型號包括ICOS品牌的LS-7700和Hitachi High-Tech的LS系列,其技術(shù)指標與切割砂輪規(guī)格、封裝檢驗標準深度關(guān)聯(lián)。隨著7nm以下先進制程占比提升,LS類設(shè)備的資本開支占比已超過20%,成為保障車規(guī)級芯片可靠性的**環(huán)節(jié) [1]。成像:按材質(zhì)特性配置光源參數(shù).

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因此,QFN的 焊盤設(shè)計建議為:焊盤伸出于器件引腳的外端, 而縮進于器件的內(nèi) 端,這樣使得在器件引腳的內(nèi)外形成彎月型焊盤。在這里 很重要的一點是,在進行設(shè)計計算時必須考慮器件的公差范圍。(圖9)BGA 設(shè)計圖10在BGA設(shè)計時,焊點的形狀(如淚滴型)可以通過特 別的布局使其成為可見的;就是說,淚滴型的焊點除了具 有奇怪的形狀外,它的方向也是很隨意的??偠灾?,在 器件面的焊盤和在PCB上的焊盤正好和BGA焊球的大小是 一樣的(圖10 )。在德國Erlangen 大學,學者做了大量的 研究去評價單個焊盤形狀的模型;他們發(fā)現(xiàn),無論焊盤是 圓形還是非圓形的,焊膏印刷圖形要保持為圓形不變。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機需要校準。這個位置的檢查滿足過程跟蹤的目標。太倉通用自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制

這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生。太倉通用自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制

基本優(yōu)化每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術(shù)并運用適當 的運算法則來進行檢查?;趫D像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經(jīng)驗和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計來預(yù)防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設(shè)計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇),它的優(yōu)點包括:太倉通用自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制

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