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測(cè)量USB測(cè)試參考價(jià)格

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-08-25

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比,USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多,電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的,頻域傳輸參數(shù)的測(cè) 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外,對(duì)于電纜來(lái)說(shuō)還有一些時(shí)域參數(shù),如差分阻抗和 不對(duì)稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求,這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來(lái)測(cè)量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過(guò)增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外,USB Type-C電纜上要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多,通過(guò)模塊化的 設(shè)計(jì),VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口,因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目 都可以通過(guò)一 臺(tái)多端口的VNA來(lái)完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測(cè)試的例子。 USB2.0一致性測(cè)試數(shù)據(jù);測(cè)量USB測(cè)試參考價(jià)格

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USB4.0的接收容限測(cè)試

對(duì)于USB4.0的接收端來(lái)說(shuō),主要進(jìn)行的是接收容限測(cè)試,用于驗(yàn)證接收端在壓力信號(hào)(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn)。具體的測(cè)試項(xiàng)目包括壓力信號(hào)的誤碼率測(cè)試(BER)、突發(fā)誤碼率測(cè)試(MultiError-Burst)、頻率偏差(FrequencyVariations)、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測(cè)試要在壓力信號(hào)下進(jìn)行,因此需要先用高速誤碼儀的碼型發(fā)生器產(chǎn)生帶預(yù)加重、正弦抖動(dòng)(PJ)、隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)、共模噪聲(ACCM)的信號(hào),并用高帶寬示波器進(jìn)行壓力信號(hào)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完成后再把壓力信號(hào)注入被測(cè)件,在不同的正弦抖動(dòng)幅度和頻率下進(jìn)行誤碼率測(cè)試。在USB4.0的接收容限測(cè)試中,需要做兩種場(chǎng)景的測(cè)試:Casel的測(cè)試中沒有插入U(xiǎn)SB電纜,模擬鏈路損耗小的情況;Case2的測(cè)試中要插入2m 安徽信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試USB3.0一致性測(cè)試數(shù)據(jù);

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USB測(cè)試,需要被測(cè)件能夠發(fā)出不同速率的測(cè)試碼型以及不同的預(yù)加重設(shè)置。被測(cè)件發(fā)送信號(hào)的控制需要通過(guò)USB4的微控制器,這個(gè)控制器可以在USB協(xié)會(huì)提供的ETT(ElectricalTestTool)軟件的控制下和被測(cè)設(shè)備交互,并控制被測(cè)設(shè)備輸出需要的測(cè)試碼型。為Wilder公司提供的USB4.0的測(cè)試夾具及控制器。在有些示波器的USB4的信號(hào)質(zhì)量自動(dòng)測(cè)試軟件中,也集成了ETT軟件的控制腳本。這樣在測(cè)試過(guò)程中,用戶只需要選擇需要測(cè)試的速率和項(xiàng)目,測(cè)試軟件就會(huì)根據(jù)不同的項(xiàng)目設(shè)置被測(cè)件的狀態(tài),而不需要每次運(yùn)行不同測(cè)試項(xiàng)目時(shí)等待用戶手動(dòng)進(jìn)行煩瑣的被測(cè)件狀態(tài)設(shè)置。USB4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的測(cè)試環(huán)境設(shè)置、測(cè)試項(xiàng)目選擇以及運(yùn)行測(cè)試項(xiàng)目的界面。

Type - C的接口是雙面的,也就是同 一 時(shí)刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引腳上會(huì)有USB3 . 1信號(hào)輸出,至于哪 一面有信號(hào)輸出,取決于插入的方向。如圖3 . 18所 示,默認(rèn)情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻 Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同,只有CCl或者CC2會(huì)有連接,通過(guò)檢測(cè)CCl或者CC2上的 電壓變化,DFP和UFP設(shè)備就能感知到對(duì)端的插入從而啟動(dòng)協(xié)商過(guò)程。

信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試過(guò)程中,由于被測(cè)件連接的是測(cè)試夾具,并沒有真實(shí)地對(duì)端設(shè)備插入,這就需要人為在測(cè)試夾具上模擬電阻的上下拉來(lái)欺騙被測(cè)件輸出信號(hào) usb3.0協(xié)議測(cè)試方法?

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USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試在進(jìn)行USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí),會(huì)要求測(cè)試對(duì)象發(fā)出特定的測(cè)試碼型,用實(shí)時(shí)示波器對(duì)該碼型進(jìn)行眼圖分析,并測(cè)量信號(hào)的幅度、抖動(dòng)、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時(shí)間等。雖然看起來(lái)好像比較簡(jiǎn)單,但實(shí)際上USB3.x針對(duì)超高速部分的信號(hào)測(cè)試與傳統(tǒng)USB2.0的測(cè)試方法有較大的不同,包括很多算法的處理和注意事項(xiàng)。首先,由于USB3.x信號(hào)速率很高,且信號(hào)的幅度更小,因此測(cè)試中需要更高帶寬的示波器。對(duì)于5Gbps信號(hào)的測(cè)試,推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器;對(duì)于10Gbps信號(hào)的測(cè)試,推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次,對(duì)于USB3.x發(fā)送端測(cè)試,其測(cè)試的參考點(diǎn)不是像USB2.0那樣只是在發(fā)送端的連接器上進(jìn)行測(cè)試,還需要測(cè)試經(jīng)過(guò)“一致性通道”(ComplianceChannel)或“參考通道”(ReferenceChannel)傳輸,并經(jīng)參考均衡器均衡后的信號(hào)質(zhì)量。通常把直接在發(fā)送端連接器上進(jìn)行的測(cè)試叫作“ShortChannel”測(cè)試,把經(jīng)過(guò)傳輸通道進(jìn)行的測(cè)試叫作“LongChannel”測(cè)試。USB3.0測(cè)試信號(hào)的波形;安徽USB測(cè)試DDR測(cè)試

USB2.0USB3.0測(cè)試方法區(qū)別?測(cè)量USB測(cè)試參考價(jià)格

   克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測(cè)試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)。

   克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測(cè)試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員,嚴(yán)格按照行業(yè)測(cè)試規(guī)范,配備高性能的權(quán)能測(cè)試設(shè)備,提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)。

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