OBIRCH與EMMI技術在集成電路失效分析領域中扮演著互補的角色,其主要差異體現(xiàn)在檢測原理及應用領域。具體而言,EMMI技術通過光子檢測手段來精確定位漏電或發(fā)光故障點,而OBIRCH技術則依賴于激光誘導電阻變化來識別短路或阻值異常區(qū)域。這兩種技術通常被整合于同一檢測系統(tǒng)(即PEM系統(tǒng))中,其中EMMI技術在探測光子發(fā)射類缺陷,如漏電流方面表現(xiàn)出色,而OBIRCH技術則對金屬層遮蔽下的短路現(xiàn)象具有更高的敏感度。例如,EMMI技術能夠有效檢測未開封芯片中的失效點,而OBIRCH技術則能有效解決低阻抗(<10 ohm)短路問題。微光顯微鏡的便攜款桌面級設計,方便在生產線現(xiàn)場快速檢測,及時發(fā)現(xiàn)產品問題,減少不合格品流出。IC微光顯微鏡批量定制
致晟光電作為蘇州本土的光電檢測設備研發(fā)制造企業(yè),其本地化服務目前以國內市場為主要覆蓋區(qū)域 。尤其在華東地區(qū),依托總部蘇州的地理優(yōu)勢,對上海、江蘇、浙江等周邊省市實現(xiàn)高效服務。無論是設備的安裝調試,還是售后的故障維修、技術咨詢,都能在短時間內響應,例如在蘇州本地,接到客戶需求后,普遍可在數小時內安排技術人員上門服務。在全國范圍內,致晟光電已通過建立銷售服務網點、與當地經銷商合作等方式,保障本地化服務的覆蓋。
低溫熱微光顯微鏡24小時服務介電層漏電時,微光顯微鏡可檢測其光子定位位置,保障電子器件絕緣結構可靠,防止電路故障。
選擇國產 EMMI 微光顯微鏡,既是擁抱技術自主,更是搶占效率與成本的雙重優(yōu)勢!致晟光電全本土化研發(fā)實力,與南京理工大學光電技術學院深度攜手,致力于光電技術研究和產業(yè)化應用,充分發(fā)揮其科研優(yōu)勢,構建起產學研深度融合的技術研發(fā)體系。
憑借這一堅實后盾,我們的 EMMI 微光顯微鏡在性能上實現(xiàn)更佳突破:-80℃制冷型探測器搭配高分辨率物鏡,輕松捕捉極微弱漏電流光子信號,漏電缺陷定位精度與國際設備同步,讓每一個細微失效點無所遁形。
為了讓客戶對設備品質有更直觀的了解,我們大力支持現(xiàn)場驗貨。您可以親臨我們的實驗室,近距離觀察設備的外觀細節(jié),親身操作查驗設備的運行性能、精度等關鍵指標。每一臺設備都經過嚴格的出廠檢測,我們敢于將品質擺在您眼前,讓您在采購前就能對設備的實際狀況了然于胸,消除后顧之憂。一位來自汽車零部件廠商的客戶分享道:“之前采購設備總擔心實際性能和描述有差距,在致晟光電現(xiàn)場驗貨時,工作人員耐心陪同我們測試,設備的精度和穩(wěn)定性都超出預期,這下采購心里踏實多了。”針對光器件,能定位光波導中因損耗產生的發(fā)光點,為優(yōu)化光子器件的傳輸性能、降低損耗提供關鍵數據。
致晟光電作為專注于微光顯微鏡與熱紅外顯微鏡應用的技術團隊,設備在微小目標定位、熱分布成像等場景中具備高分辨率優(yōu)勢,可廣泛應用于芯片、PCB板、顯示屏等消費電子元器件的檢測環(huán)節(jié),為您提供客觀的物理位置或熱分布定位數據。
為讓您更直觀了解設備的定位精度與適用性,我們誠摯邀請貴單位參與樣品測試合作:若您有需要進行微光定位(如細微結構位置標記、表面瑕疵定位)或熱紅外定位(如元器件發(fā)熱點分布、溫度梯度成像)的樣品,可郵寄至我方實驗室。我們將提供專業(yè)檢測服務,輸出包含圖像、坐標、數值等在內的定位數據報告(注:報告呈現(xiàn)客觀檢測結果,不做定性或定量結論判斷)。測試過程中,我們會根據您的需求調整檢測參數,確保定位數據貼合實際應用場景。若您對設備的定位效果認可,可進一步洽談設備采購或長期檢測服務合作。 分析低阻抗短路時,微光顯微鏡可用于未開蓋樣品測試,還能定位大型 PCB 上金屬線路及元器件失效點。工業(yè)檢測微光顯微鏡牌子
它嘗試通過金屬層邊緣等位置的光子來定位故障點,解決了復雜的檢測難題。IC微光顯微鏡批量定制
在故障分析領域,微光顯微鏡(EmissionMicroscope,EMMI)是一種極具實用價值且效率出眾的分析工具。其功能是探測集成電路(IC)內部釋放的光子。在IC元件中,電子-空穴對(ElectronHolePairs,EHP)的復合過程會伴隨光子(Photon)的釋放。具體可舉例說明:當P-N結施加偏壓時,N區(qū)的電子會向P區(qū)擴散,同時P區(qū)的空穴也會向N區(qū)擴散,隨后這些擴散的載流子會與對應區(qū)域的載流子(即擴散至P區(qū)的電子與P區(qū)的空穴、擴散至N區(qū)的空穴與N區(qū)的電子)發(fā)生EHP復合,并在此過程中釋放光子。IC微光顯微鏡批量定制