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MOS管

來源: 發(fā)布時間:2023-12-08

當(dāng)MOS電容的GATE相對于BACKGATE正偏置時發(fā)生的情況。穿過GATEDIELECTRIC的電場加強了,有更多的電子從襯底被拉了上來。同時,空穴被排斥出表面。隨著GATE電壓的升高,會出現(xiàn)表面的電子比空穴多的情況。由于過剩的電子,硅表層看上去就像N型硅。摻雜極性的反轉(zhuǎn)被稱為inversion,反轉(zhuǎn)的硅層叫做channel。隨著GATE電壓的持續(xù)不斷升高,越來越多的電子在表面積累,channel變成了強反轉(zhuǎn)。Channel形成時的電壓被稱為閾值電壓Vt。當(dāng)GATE和BACKGATE之間的電壓差小于閾值電壓時,不會形成channel。當(dāng)電壓差超過閾值電壓時,channel就出現(xiàn)了。

MOS管的工作原理mos管在電路中一般用作電子開關(guān),在開關(guān)電源中常用MOS管的漏極開路電路,漏極原封不動地接負(fù)載,叫開路漏極,開路漏極電路中不管負(fù)載接多高的電壓,都能夠接通和關(guān)斷負(fù)載電流。是理想的模擬開關(guān)器件。這就是MOS管做開關(guān)器件的原理。當(dāng)然MOS管做開關(guān)使用的電路形式比較多了。 mos管的三個極怎么區(qū)分?MOS管

MOS管作為開關(guān)管應(yīng)用的特殊驅(qū)動電路MOS管和普通晶體三極管相比,有諸多的優(yōu)點,但是在作為大功率開關(guān)管應(yīng)用時,由于MOS管具有的容性輸入特性,MOS管的輸入端,等于是一個小電容器,輸入的開關(guān)激勵信號,實際上是在對這個電容進(jìn)行反復(fù)的充電、放電的過程,在充放電的過程中,使MOS管道導(dǎo)通和關(guān)閉產(chǎn)生了滯后,使“開”與“關(guān)”的過程變慢,這是開關(guān)元件不能允許的(功耗增加,燒壞開關(guān)管)。

由于MOS管在制造工藝上柵極S的引線的電流容量有一定的限度,所以在Q1在飽和導(dǎo)通時VCC對MOS管柵極S的瞬時充電電流巨大,極易損壞MOS管的輸入端,為了保護(hù)MOS管的安全,在具體的電路中必須采取措施限制瞬時充電的電流值,在柵極充電的電路中串接一個適當(dāng)?shù)某潆娤蘖麟娮琛?汽車MOS管廠地址mos管是電壓驅(qū)動還是電流驅(qū)動?

P溝道耗盡型場效應(yīng)管原理:P溝道耗盡型MOS管的工作原理與N溝道耗盡型MOS管完全相同,只不過導(dǎo)電的載流子不同,供電電壓極性也不同。5、耗盡型與增強型MOS管的區(qū)別耗盡型與增強型的主要區(qū)別在于耗盡型MOS管在G端(Gate)不加電壓時有導(dǎo)電溝道存在,而增強型MOS管只有在開啟后,才會出現(xiàn)導(dǎo)電溝道;兩者的控制方式也不一樣,耗盡型MOS管的VGS(柵極電壓)可以用正、零、負(fù)電壓控制導(dǎo)通,而增強型MOS管a必須使得VGS>VGS(th)(柵極閾值電壓)才行。由于耗盡型N溝道MOS管在SiO2絕緣層中摻有大量的Na+或K+正離子(制造P溝道耗盡型MOS管時摻入負(fù)離子),當(dāng)VGS=0時,這些正離子產(chǎn)生的電場能在P型襯底中感應(yīng)出足夠的電子,形成N型導(dǎo)電溝道;當(dāng)VGS>0時,將產(chǎn)生較大的ID(漏極電流);如果使VGS<0,則它將削弱正離子所形成的電場,使N溝道變窄,從而使ID減小。這些特性使得耗盡型MOS管在實際應(yīng)用中,當(dāng)設(shè)備開機時可能會誤觸發(fā)MOS管,導(dǎo)致整機失效;不易被控制,使得其應(yīng)用極少。

mos管也稱場效應(yīng)管,首先考察一個更簡單的器件--MOS電容--能更好的理解MOS管。這個器件有兩個電極,一個是金屬,另一個是extrinsicsilicon(外在硅),他們之間由一薄層二氧化硅分隔開。金屬極就是GATE,而半導(dǎo)體端就是backgate或者body。他們之間的絕緣氧化層稱為gatedielectric(柵介質(zhì))。MOS管是一種常用的場效應(yīng)管,它具有以下四種作用:1.放大作用:MOS管可以將輸入信號放大,使得輸出信號的幅度比輸入信號大。2.開關(guān)作用:MOS管可以作為開關(guān)使用,控制電路的通斷。3.反相器作用:MOS管可以將輸入信號進(jìn)行反相,即輸出信號與輸入信號相反。4.濾波作用:MOS管可以作為濾波器使用,對輸入信號進(jìn)行濾波,去除不需要的頻率成分,得到需要的信號。 mos管的三個極電壓關(guān)系。

MOS管工作原理

1、N溝道增強型場效應(yīng)管原理N溝道增強型MOS管在P型半導(dǎo)體上生成一層SiO2薄膜絕緣層,然后用光刻工藝擴散兩個高摻雜的N型區(qū),從N型區(qū)引出電極(漏極D、源極S9);在源極和漏極之間的SiO2絕緣層上鍍一層金屬鋁作為柵極G;P型半導(dǎo)體稱為襯底,用符號B表示。由于柵極與其它電極之間是相互絕緣的,所以NMOS又被稱為絕緣柵型場效應(yīng)管a。當(dāng)柵極Ga和源極S之間不加任何電壓,即VGS=0時,由于漏極和源極兩個N+型區(qū)之間隔有P型襯底,相當(dāng)于兩個背靠背連接的PN結(jié),它們之間的電阻高達(dá)1012Ω,即D、S之間不具備導(dǎo)電的溝道,所以無論在漏、源極之間加何種極性的電壓,都不會產(chǎn)生漏極電流ID。 mos管三個工作狀態(tài)條件。MOS管

MOS管作用與特性是什么?MOS管

無二次擊穿;由于普通的功率晶體三極管具有當(dāng)溫度上升就會導(dǎo)致集電極電流上升(正的溫度~電流特性)的現(xiàn)象,而集電極電流的上升又會導(dǎo)致溫度進(jìn)一步的上升,溫度進(jìn)一步的上升,更進(jìn)一步的導(dǎo)致集電極電流的上升這一惡性循環(huán)。而晶體三極管的耐壓VCEO隨管溫度升高是逐步下降,這就形成了管溫繼續(xù)上升、耐壓繼續(xù)下降會導(dǎo)致晶體三極管的擊穿,這是一種導(dǎo)致電視機開關(guān)電源管和行輸出管損壞率占95%的破環(huán)性的熱電擊穿現(xiàn)象,也稱為二次擊穿現(xiàn)象。MOS管具有和普通晶體三極管相反的溫度~電流特性,即當(dāng)管溫度(或環(huán)境溫度)上升時,溝道電流IDS反而下降。例如;一只IDS=10A的MOSFET開關(guān)管,當(dāng)VGS控制電壓不變時,在250C溫度下IDS=3A,當(dāng)芯片溫度升高為1000C時,IDS降低到2A,這種因溫度上升而導(dǎo)致溝道電流IDS下降的負(fù)溫度電流特性,使之不會產(chǎn)生惡性循環(huán)而熱擊穿。也就是MOS管沒有二次擊穿現(xiàn)象,可見采用MOS管作為開關(guān)管,其開關(guān)管的損壞率大幅度的降低,近兩年電視機開關(guān)電源采用MOS管代替過去的普通晶體三極管后,開關(guān)管損壞率大幅度降低也是一個極好的證明。 MOS管

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