LPCVD設(shè)備中還有一個(gè)重要的工藝參數(shù)是氣體前驅(qū)體的流量，因?yàn)樗灿绊懥朔磻?yīng)速率、反應(yīng)機(jī)理、反應(yīng)產(chǎn)物、反應(yīng)選擇性等方面。一般來(lái)說(shuō)，流量越大，氣體在反應(yīng)室內(nèi)的濃度越高，反應(yīng)速率越快，沉積速率越高；流量越小，氣體在反應(yīng)室內(nèi)的濃度越低，反應(yīng)速率越慢，沉積速率越低。但是，并不是流量越大越好，因?yàn)檫^(guò)大的流量也會(huì)帶來(lái)一些不利的影響。例如，過(guò)大的流量會(huì)導(dǎo)致氣體在反應(yīng)室內(nèi)的停留時(shí)間縮短，從而降低沉積效率或增加副產(chǎn)物；過(guò)大的流量會(huì)導(dǎo)致氣體在反應(yīng)室內(nèi)的流動(dòng)紊亂，從而降低薄膜的均勻性或質(zhì)量；過(guò)大的流量會(huì)導(dǎo)致氣體前驅(qū)體之間或與襯底材料之間的競(jìng)爭(zhēng)反應(yīng)增加，從而改變反應(yīng)機(jī)理或反應(yīng)選擇性。薄膜中存在的各種缺陷是產(chǎn)生本征應(yīng)力的主要原因，這些缺陷一般都是非平衡缺陷，但需要外界給予活化能。江蘇EB真空鍍膜

對(duì)于PECVD如果成膜質(zhì)量差，則主要由一下幾項(xiàng)因素造成：1.樣片表面清潔度差，檢查樣品表面是否清潔。2.工藝腔體清潔度差，清洗工藝腔體。3.樣品溫度異常，檢查溫控系統(tǒng)是否正常，校準(zhǔn)測(cè)溫?zé)犭娕肌?.膜淀積過(guò)程中壓力異常，檢查腔體真空系統(tǒng)漏率。5.射頻功率設(shè)置不合理，檢查射頻電源，調(diào)整設(shè)置功率。影響PECVD工藝質(zhì)量的因素主要有以下幾個(gè)方面：1.起輝電壓：間距的選擇應(yīng)使起輝電壓盡量低，以降低等離子電位，減少對(duì)襯底的損傷。2.極板間距和腔體氣壓：極板間距較大時(shí)，對(duì)襯底的損傷較小，但間距不宜過(guò)大，否則會(huì)加重電場(chǎng)的邊緣效應(yīng)，影響淀積的均勻性。反應(yīng)腔體的尺寸可以增加生產(chǎn)率，但是也會(huì)對(duì)厚度的均勻性產(chǎn)生影響。3.射頻電源的工作頻率，射頻PECVD通常采用50kHz~13.56MHz頻段射頻電源，頻率高，等離子體中離子的轟擊作用強(qiáng)，淀積的薄膜更加致密，但對(duì)襯底的損傷也比較大。寧波鈦金真空鍍膜真空鍍膜過(guò)程中需精確控制氣體流量。

高頻淀積的薄膜，其均勻性明顯好于低頻，這時(shí)因?yàn)楫?dāng)射頻電源頻率較低時(shí)，靠近極板邊緣的電場(chǎng)較弱，其淀積速度會(huì)低于極板中心區(qū)域，而頻率高時(shí)則邊緣和中心區(qū)域的差別會(huì)變小。4.射頻功率，射頻的功率越大離子的轟擊能量就越大，有利于淀積膜質(zhì)量的改善。因?yàn)楣β实脑黾訒?huì)增強(qiáng)氣體中自由基的濃度，使淀積速率隨功率直線上升，當(dāng)功率增加到一定程度，反應(yīng)氣體完全電離，自由基達(dá)到飽和，淀積速率則趨于穩(wěn)定。5.氣壓，形成等離子體時(shí)，氣體壓力過(guò)大，單位內(nèi)的反應(yīng)氣體增加，因此速率增大，但同時(shí)氣壓過(guò)高，平均自由程減少，不利于淀積膜對(duì)臺(tái)階的覆蓋。氣壓太低會(huì)影響薄膜的淀積機(jī)理，導(dǎo)致薄膜的致密度下降，容易形成針狀態(tài)缺陷；氣壓過(guò)高時(shí)，等離子體的聚合反應(yīng)明顯增強(qiáng)，導(dǎo)致生長(zhǎng)網(wǎng)絡(luò)規(guī)則度下降，缺陷也會(huì)增加；6.襯底溫度，襯底溫度對(duì)薄膜質(zhì)量的影響主要在于局域態(tài)密度、電子遷移率以及膜的光學(xué)性能，襯底溫度的提高有利于薄膜表面懸掛鍵的補(bǔ)償，使薄膜的缺陷密度下降。襯底溫度對(duì)淀積速率的影響小，但對(duì)薄膜的質(zhì)量影響很大。溫度越高，淀積膜的致密性越大，高溫增強(qiáng)了表面反應(yīng)，改善了膜的成分

涂敷在透明光學(xué)元件表面、用來(lái)消除或減弱反射光以達(dá)增透目的的光學(xué)薄膜。又稱增透膜。簡(jiǎn)單的減反射膜是單層介質(zhì)膜，其折射率一般介于空氣折射率和光學(xué)元件折射率之間，使用普遍的介質(zhì)膜材料為氟化鎂。減反射膜的工作原理是基于薄膜干涉原理。入射光在介質(zhì)膜兩表面反射后得兩束相干光，選擇折射率適當(dāng)?shù)慕橘|(zhì)膜材料，可使兩束相干光的振幅接近相等，再控制薄膜厚度，使兩相干光的光程差滿足干涉極小條件，此時(shí)反射光能量將完全消除或減弱。反射能量的大小是由光波在介質(zhì)膜表面的邊界條件確定，適當(dāng)條件下可完全沒(méi)有反射光或只有很弱的反射光。
鍍膜技術(shù)可用于制造高性能傳感器。

LPCVD設(shè)備中的薄膜材料在各個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。例如：（1）多晶硅薄膜在微電子和太陽(yáng)能領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用，如作為半導(dǎo)體器件的源漏極或柵極材料，或作為太陽(yáng)能電池的吸收層或窗口層材料；（2）氮化硅薄膜在光電子和微機(jī)電領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用，如作為光纖或波導(dǎo)的折射率匹配層或包層材料，或作為微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）的結(jié)構(gòu)層材料；（3）氧化硅薄膜在集成電路和傳感器領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用，如作為金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（MOSFET）的柵介質(zhì)層或通道層材料，或作為氣體傳感器或生物傳感器的敏感層或保護(hù)層材料；（4）碳化硅薄膜在高溫、高功率、高頻率領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用，如作為功率器件或微波器件的基底材料或通道材料使用CVD的方式進(jìn)行沉積氧化氮化硅(SiOxNy)與氮化硅(SiNx)能有效提高鈍化發(fā)射極和后極電池效率。遼寧叉指電極真空鍍膜

鍍膜層能明顯提升產(chǎn)品的抗輻射能力。江蘇EB真空鍍膜

通常在磁控濺射制備薄膜時(shí)，可以通過(guò)觀察氬氣激發(fā)產(chǎn)生的等離子體的顏色來(lái)大致判斷所沉積的薄膜是否符合要求，如若設(shè)備腔室內(nèi)混入其他組分的氣體，則在濺射過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生明顯不同于氬氣等離子體的暗紅色，若混入少量氧氣，則會(huì)呈現(xiàn)較為明亮的淡紅色。也可根據(jù)所制備的薄膜顏色初步判斷其成分，例如硅薄膜應(yīng)當(dāng)呈現(xiàn)明顯的灰黑色，而當(dāng)含有少量氧時(shí)，薄膜的顏色則會(huì)呈現(xiàn)偏透明的紅棕色，含有少量氮元素時(shí)則會(huì)顯現(xiàn)偏紫色。氧化銦錫（ITO）是一種優(yōu)良的導(dǎo)電薄膜，是由氧化銦和氧化錫按一定比例混合組成的氧化物，主要用于液晶顯示、觸摸屏、光學(xué)薄膜等方面。其中氧化銦和氧化錫的比例通常為90：10，當(dāng)調(diào)節(jié)兩種組分不同比例時(shí)，也可以得到不同性能的ITO，ITO薄膜通常由電子束蒸發(fā)和磁控濺射制備，根據(jù)使用場(chǎng)景，在制備ITO薄膜的工藝過(guò)程中進(jìn)行調(diào)控也可制得不同滿足需求的ITO薄膜江蘇EB真空鍍膜